二、實驗室測量
圖2為實驗裝置簡圖。杜瓦并是內、外雙層結構，適用于兩種工作狀態：內、外兩層都充滿液氮，則探測器在77K下工作；若外層杜瓦瓶充液氮、內層液氦杜瓦瓶充液氦，則探測器在4K下工作。對液氮杜瓦瓶抽氣，使液氮成為固體，則得到66K工作的數據。濾色盤由一套紅外濾光片組成，可用步進電機使其在孔徑光上方旋轉。把孔徑光闌冷卻到內層杜瓦瓶的溫度，而濾色盤則冷卻到外層液氦杜瓦瓶的溫用標準的紅外技術調整黑體源和斬光鏡，以便能用已知頻率(最典型地用5赫芝或者10赫芝)調制一已知信號。前置放大器的輸出被反饋到同步放大器，并用中心頻率為斬波頻率、帶寬為一赫芝測裝置有差別外， 其余都和Hall的電路一樣[2] 。附加的短路裝置有兩個目的：第一，當探測器被短路時，可避免因前放功率上升或下降的瞬態變化而造成損害；第二，在短路時，探測器實際上脫離了場效應晶體管的選通門，因此在探測器與電路連結之前，就可以檢查前放的正常工作狀態。通過調整偏壓電位差計，改變探測器上的直流壓降，同時測量直流輸出電壓的變化，則可獲得探測器電阻Rp的大小。知道反饋電阻R值，如果Ro<Rj，就可計算出dV/dI或探測器電阻RD(如果RD>Rj，只能給出探測器電阻的下限)。用兩個反饋電阻R；和Rj2，在相同條件下測量信號時，因為R12阻值比Ra小得多，若將它們上面的信號電壓加以比較，則可能檢測前放的頻率響應。另外，當背景輻射很強時，通過Ri1的直流光電流可使前放飽和，若想繼續測量，需轉換較小的電阻R12。表1列出了不同溫度下的R和R/2的阻值。在作噪聲測量時，把斬光鏡放在使探測器只能觀察室溫(300K)背景的位置上。當濾色盤處于阻閉位置或者孔徑光闌堵塞時，探測器只能觀察到77K.或4K的環境。為校準噪聲的大小，用一已知電阻取代探測器，并在相同溫度、帶寬和電路的情況下測